在半導體制造中,ALD 臭氧工藝廣泛用于制備高介電常數(high-k)的絕緣薄膜,如 HfO? 和 Al?O?。這些薄膜可以提高器件的性能和可靠性。
通過熱原子層沉積(TALD)和等離子體增強原子層沉積(PEALD)技術,研究人員比較了水和臭氧作為共反應物對 HfO? 薄膜性能的影響。結果表明,以臭氧為氧化劑制備的 HfO? 薄膜具有更低的漏電流和更好的絕緣性能。
ALD 臭氧工藝在柔性電子領域具有重要應用,特別是在低溫下制備高質量的阻擋膜。
在柔性 OLED 器件中,通過 ALD 臭氧工藝制備的 Al?O? 薄膜可以有效阻隔水蒸氣和氧氣,延長器件的使用壽命。
在太陽能電池制造中,ALD 臭氧工藝用于制備氧化鋁(Al?O?)和氮化硅(SiNx)堆棧,以實現對 p 型晶體硅(c-Si)的有效鈍化。
通過優化臭氧濃度和沉積溫度,研究人員成功制備了具有優異鈍化質量的 Al?O?/SiNx 堆棧,顯著提高了太陽能電池的轉換效率。
未來發展方向:
工藝優化:進一步提高薄膜的均勻性和性能。
新材料開發:探索適用于 ALD 臭氧工藝的新型前驅體和氧化劑。
技術融合:將 ALD 臭氧工藝與其他薄膜制備技術結合,推動其在更多領域的應用。
通過持續的技術創新和應用拓展,ALD 臭氧工藝將為材料科學和電子器件制造帶來更多突破性進展。
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